元器件測試高低溫一體機，制冷加熱裝置

主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。

元器件測試高低溫一體機，制冷加熱裝置

    元器件高低溫測試機提醒，發生在產品研制階段，生產階段到使用階段的各個環節，通過分析工藝廢次品，早期失效，實驗失效及現場失效的失效產品明確失效模式、分折失效機理，終找出失效原因，因此元器件的使用方在元器件的選擇、整機計劃等方面，元器件生產方在產品的可靠性方案設計過程，都必須參考失效分折的結果。通過失效分折，可鑒別失效模式，弄清失效機理，提出改進措施，并反饋到使用、生產中，將提高元器件和設備的可靠性。

    對電子元器件失效機理，原因的診斷過程叫失效分析。進行失效分析往往需要進行電測量并采用*的物理、冶金及化學的分析手段。失效分析的任務是確定失效模式和失效機理.提出糾正措施，防止這種失效模式和失效機理的重復出現。因此，失效分析的主要內容包括：明確分析對象、確定失效模式、判斷失效原因、研究失效機理、提出預防措施（包括設計改進)。

　　芯片高低溫測試機電子元器件測試系統以其優良的軟硬件性能和完善的服務在航天、航空、電子、郵電、半導體、核工業、兵器等行業得到廣泛的應用。用戶單位包括從事整機研制和生產的研究所和企業，包括從事半導體器件研制和生產的研究所和企業，包括專業從事電子元器件測試篩選的測試中心，也包括一些外資公司和企業。因而創造了良好的經濟效益和社會效益。

目前，無錫冠亞利用制冷加熱動態控溫系統還在針對電子元器件行業的測試工作不斷開發新的產品，為我國的電子元器件測試行業做出發展。